Triple---3D光學掃瞄系統

非接觸式量測系統，結合獨特的SIDIO技術製造之光學量測探頭與光學標記定位系統(MML)，能夠快速取得完整點群資料，且省去黏貼定位標籤步驟。Triple為便利可攜設計，讓使用者可以不受環境限制進行量測工作。

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